材料分析サービス｜ユーロフィンEAG

III-V族半導体デバイス開発と先進分析技術セミナー

2025年10月24日（金）10:30 - 16:00
定員：先着100名
参加費：無料
会場：ステーションコンファレンス東京
　ＪＲ東京駅　日本橋口 直結 / 八重洲北口 徒歩2分
　東京メトロ　東西線大手町駅B7出口 直結
　〒100-0005 東京都千代田区丸の内1-7-12

本セミナーではUSラボの技術者を招き、最新の分析技術をご紹介いたします。また、日本で未発表の分析技術についてもご紹介する予定です。

● セミナーセッション

スペシャルゲスト

三宅秀人（みやけひでと）先生のご講演
国立大学法人 三重大学
　工学研究科 教授
　半導体・デジタル未来創造センター 半導体部門長
　一般社団法人 ワイドギャップ半導体学会 会長

USラボ / EAG Laboratories（予定）

• 透過型電子顕微鏡分析セッション
• 二次イオン質量分析セッション
• 三次元アトムプローブセッション