材料分析｜ユーロフィンEAG

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押さえておきたい！
TEM & SEM分析のデータ解釈ウェビナー

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一般的に半導体や鉄鋼・金属・先端材料などの表面や構造をナノスケールで観察するためにはSEMやTEMが用いられます。SEMは主に試料の表面をナノスケールで観察します、またTEMは試料に電子線を透過させることにより、SEMよりも高分解能での観察が可能となっています。

SEMおよびTEMは分析目的によって検出器やコントラストの使い分けが重要になってきます。ウェビナーでは分析目的ごとに、どのような検出器やコントラストが適しているかを分かりやすく説明しています。

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