材料分析｜ユーロフィンEAG

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なにができるの！？
TEM分析の応用ウェビナー

■ ABOUT
TEM/STEM（透過型電子顕微鏡/走査型透過型電子顕微鏡分析）は、電子ビームを使用してサンプルを画像化する分析手法です。 TEM/STEMの空間分解能は約1〜2Åです。また、近年ではSTEMに球面収差補正レンズを搭載したAC-STEM（CS補正機能付きSTEM）により従来のSTEMよりも高分解能での分析が可能になりました。

EAG LaboratoriesではTEM/STEMを20台以上所有し、試料作製用のFIB-SEMを35台以上所有しています。また、元素分析を行うEDS/EELSも複数台所有しています。分析に充分な設備数を所有しているため、TEM/STEM分析は常に短納期でご対応することが可能になっています。

ウェビナーではTEMや高分解能AC-STEMの解析事例をはじめとして、Atomic-EELSやNBD（Nano Beam Diffraction/電子回折）、平面TEMを用いて実施可能なアドバンス分析について発表しています。

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