材料分析｜ユーロフィンEAG

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いまさら聞けない！
TEM分析の基礎ウェビナー

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半導体のデバイスプロセス開発・材料開発において、高分解能透過型電子顕微鏡分析であるTEM/STEM分析は多く活用されています。
今回のセミナーではSTEM分析で取得できる"分析データの付加価値"を中心に発表しました。
また、分かりにくい、TEM・STEM・AC-STEM（CS-STEM）の違いについても分かりやすくご説明しています。

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ユーロフィンEAG株式会社
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